秉承著諸多飛納電鏡客戶的殷切期盼,近年來持續(xù)擴大投入研發(fā),如今已取得重大突破!2017年 4 月 12 日,飛納電鏡于蘇州金雞湖凱賓斯基大酒店舉行盛大的新品發(fā)布會事宜!
此次新品發(fā)布會延續(xù)了飛納電鏡一貫的“多,快,好,省”原則,同時在目前已有操作簡單(智能化),分辨率高,信噪比高,整體穩(wěn)定性強,對環(huán)境兼容性大,*防震,后期維護方便等基礎(chǔ)上,進一步創(chuàng)新,發(fā)布了以下三款創(chuàng)新產(chǎn)品。
● 高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro + SED
飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pro 以其*的背散射成像(BSE)已經(jīng)在廣大用戶群體中收獲了非常良好的口碑,如今又在 BSE 基礎(chǔ)上增添了二次電子成像( SED ),二次電子成像( SED )具有怎樣優(yōu)異的性能?其首先采用了更優(yōu)化的真空系統(tǒng)減小殘留空氣對電子束的散射,從而提高圖像信噪比,同時可利用更小束斑成像,大幅度提高分辨率。其次采用了更優(yōu)化的燈絲束流控制系統(tǒng),提高了發(fā)射束流的單色性,降低了成像系統(tǒng)的相差,從而更大程度的減小了束斑成像。
● 全自動顯微平臺 Phenom XL + 可傾斜旋轉(zhuǎn)的優(yōu)中心樣品杯
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 具有很強的后期可拓展性,其中此次即將發(fā)布的新產(chǎn)品就是針對Phenom XL 的一個拓展。該優(yōu)中心樣品杯采用了*的設(shè)計,它包含了一個可以測試優(yōu)中心傾斜和旋轉(zhuǎn)的子樣品臺,可以在一分鐘內(nèi)實現(xiàn)裝卸樣品。優(yōu)中心樣品杯的傾斜和旋轉(zhuǎn)意義重大,可以從不同角度來觀察樣品,比如測量樣品的深度、高度和厚度特征,檢查鍍層之間或零件之間的連接情況。在能譜元素分析中,傾斜功能也同樣十分有用。不平整樣品可以通過傾斜,使被分析面變得水平,從而提高能譜元素分析的準(zhǔn)確度。
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 優(yōu)中心樣品杯
● 全自動顯微平臺Phenom XL + 拉伸臺
飛納電鏡此次的新品發(fā)布會上會呈現(xiàn)的第三個產(chǎn)品就是拉伸臺,此產(chǎn)品也是飛納臺式掃描電鏡Phenom XL 一項重大拓展。拉伸臺是一種動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學(xué)前沿研究中發(fā)揮了重要作用。掃描電鏡原位拉伸臺的zui大特點是,在進行應(yīng)力—應(yīng)變力學(xué)定量測試的同時, 利用掃描電鏡的強大的景深、高空間分辨和分析功能,在微觀層面上對材料的力學(xué)性能進行動態(tài)研究。拉伸臺可以為很多材料做拉伸測試,如金屬材料(研究韌斷過程、應(yīng)力誘發(fā)相變及塑性變形),高分子材料,陶瓷材料等。飛納臺式掃描電鏡的原位拉伸臺能實現(xiàn) 2N to 1000N 的拉力區(qū)間,拉伸速度可實現(xiàn) 0.1mm/min 到 15mm/min,滿足幾乎所有領(lǐng)域樣品的原位拉伸觀測。
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 拉伸臺
飛納電鏡一貫秉承的“多,快,好,省”原則
“多”——多人,多用,多功能
“快”——快學(xué),快測,快結(jié)果
“好”——好準(zhǔn),好穩(wěn),好管理
“省”——省錢,省心,省空間
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